Planum- 3000平面光學元件光譜分析儀

PLanum-3000平面光學元件光譜分析儀用于快速測量各類平面光學元件的反射、透射光譜，可進行多角度絕對反射率、相對反射率、透射率測量，偏振光測量，膜性測量，顏色測量等。

儀器特點

自定義多角度透反射測量

測量對象

棱鏡 平行平板、平晶 濾光片 紅外截止片

技術參數

型號	Planum-3000	Planum-3000ADV
探測器	Hamamatsu背照式CD陣列	Hamamatsu背照式CD陣列
檢測范圍	380-1100nm	380-1100nm
波長分辨率	1nm	1nm
信噪比(全信號)	1000 : 1	1000 : 1
相對檢測誤差	< 0.2% ( 410-900nm )	< 0.2% ( 410-900nm )
操作方式	自動	自動
角度分辨率	<0.0002°	<0.0002°
重復定位精度	<0.005°	<0.005°
旋轉最大速度	25°/s	25°/s
透射測量角度	0-80° (小樣品0-50° )	0-80° (小樣品0-50° )
反射測量角度	5-80°	5-80°
S/P光測量	可選（手動切換）	電動
樣品尺寸	>Φ3mm
操作系統/接口	Windows7~Windows10/ USB2.0
電源/功率	220V-50HZ /100W
其它	可自定義打印報表格式，開放式光學材料數據庫