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ADMS 角分辨光譜測量儀

ADMS角分辨光譜儀是一款可變角度的多功能光譜測量儀器， 采用智能旋轉設計， 自動控制入射與采集角度，可快速實現透過/反射/熒光/散射/輻射等多種光譜測量。適用于光子晶體等納米材料的能帶缺陷特性研究、光學元件的不同角度的透反射測量、LED等發光器件的發光特性研究。

儀器特點

✹全角度測量：發射端角度范圍0°至180°，接收端角度范圍0°至360°，可以實現,反射、透射、散射、熒光和輻射的全角度光譜測量； 

✹精確角度控制：高精度電機，角度精度及重復性能優異；

✹多光譜測量模式：可以實現上反射、下反射、透射、散射/熒光、輻射等多種光譜測量；

✹寬光譜范圍：內置鹵素光源，可實現380~1700nm超寬波段光譜測量范圍；

✹可編程測量模式：可以通過編程設置不同的角度范圍和步進，來實現自動多角度光譜測量，可批量測試；

✹擴展性好：根據客戶的需求，可以選擇不同的光源、濾光片、偏振片等配件完成不同的光譜測量；

✹多維調節樣品臺：樣品臺由高精度三維位移臺和二維傾斜臺組成，可實現樣品的五維正交調節。

應用領域

光子晶體器件、材料鍍膜、納米光學材料、LED光源、液晶顯示、傳感器器件制備、

角度相關材料分析

技術參數

型號	ADMS-NIR	ADMS-VIS
調節維度	x+y+z/α+β 五維	x+y+z/α+β 五維
測量模式	上反射、下反射、透射、散射、 輻射、自由、編程	上反射、下反射、透射、散射、 輻射、自由、編程
光譜波段	900~1700nm	380~1100nm
入射光錐半角	3.9°，添加光闌后，最小錐角可達1°	3.9°，添加光闌后，最小錐角可達1°
出射光錐半角	3.9°，添加光闌后，最小錐角可達1°	3.9°，添加光闌后，最小錐角可達1°
外臂(入射)范圍	0~180°	0~180°
內臂(出射)范圍	0~360°	0~360°
最小步距角	0.0012°	0.0012°
角度精度	±0.05°	±0.05°
功耗	50 W（鹵素燈：9W）	50 W（鹵素燈：9W）
計算機控制接口	USB 2.0 @ 480 Mbps	USB 2.0 @ 480 Mbps
電源接口	AC 220 V，標準電源插口	AC 220 V，標準電源插口
尺寸 (cm)	600*300*420	600*300*420