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    TMS-320 透過率光譜分選儀

     

              TMS-320 透過率光譜分選儀是⼀臺光學元件樣品透過率批量測試設備，⾼精度電動位移平臺⼤幅提升了樣品測試速度，可⾃定義樣品測量區域，并記錄數據實現樣品多孔/多點透過率⾃動測量，適⽤于⼿機⾯板的多孔測試、陣列濾光⽚的⾼通量測試、鍍膜濾光⽚的質檢、分級和均勻性檢測。 

     

    儀器特點

    1. 單點檢測速度快，毫秒級；
    2. 毫⽶級小樣品檢測；
    3. 超⼤⾏程（可定制）、⽀持樣品⼤批量全檢；
    4. 可對樣品進⾏質檢、分級。

     

    測試對象

     

    技術參數
    相關產品：
    TMS 透過率光譜分析儀
    Planum-3000 光學元件光譜分析儀
    Sphere-3000 反射率光譜分析儀
    OTM 肉厚光譜分析儀
    顯微透過率測量儀（手機面板IR孔測量儀）
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