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    TMS-Pro(單通道)

    TMS-D(雙通道)

    透過率光譜分析儀

              TMS-PROTMS-D透過率光譜分析儀能快速準確地測量各類手機及Pad面板的透過率,可用于同一面板多個小孔測量,實時顯示單、多點波長透過率數據及指定波段平均透過率數據、實時顯示半透波長及透過率。

     

    儀器特點

    1. 采用大角度采集全穿透式測量;

    2. 可對多孔進行快速測量; 

    3. 采用數字視頻對焦,使微小區域實現精準測量;

    4. 實時顯示測量樣品關注波長位置的透射率數據及半透波長檢測,自動調整顯示坐標范圍,可對批量樣品進行高效檢測及譜圖對比分析;

    5. 可自定義測量方案,設置判定標準,自動判定"OK""NG,使檢測更快速,結果更準確;

    6. 高性能探測器,單次測量小于1秒,重復性高;

    7. 最小測量孔徑可達φ0.2mm。

     

    應用領域

    >> 手機面板IR孔、隱藏孔、霧化孔、閃光燈孔透過率測量;

    >> 弧形邊IR孔、鍍膜鏡、膠合鏡、平行平板透過率測量;

    >> 太陽膜、濾光片光學元件透光測量。

     

     

    技術參數

     

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